Scanning Electron Microscopy (SEM)
عناصر المحاضرة:
مقدمة- الية الإبصار – المجهر البسيط والمركب
الجزء الأول:
التكبير – قوة التحليل: مدى العمق
استخدامات المجهر الالكتروني – مزايا استخدام المجهر الالكتروني
الجزء الثاني:
أجزاء المجهر – كيفية انتاج الشعاع الالكتروني
العدسات المغناطيسية : العدسة المكثفة والشيئية وملفات المسح
تفاعل شعاع الالكترونات مع العينة: الالكترونات الثانوية والمشتتة – والاشعة السينية
حجم التفاعل – عمق الاختراق – كيفية الحصول على الصورة
كواشف المجهر: كاشف الالكترونات الثانوية – كاشف الالكترونات المشتتة
تاريخ المحاضرة الإربعاء الموافق 10/ 5/ 2023م على تمام الساعة العاشرة صباحا.
بصالة الإجتماعات بديوان المؤسسة
مقدم المحاضرة: أ. عبدالناصر ميلاد سالم
